一、 導(dǎo)通阻抗

將某一條連接線切到定電流源遠流(Ic)，另外一端接地(GND)，端讀取測試電壓(Ｖtest)。

二、 絕緣阻抗

將某一條連接線切到電壓原(ＶH)，其它的線全部接在一起，切到Ｒs端讀取測試電壓Ｖtest。

將每一條線皆經(jīng)由上述原理測試，直到所有的線都測完為止，若有錯誤則顯示出來。

DC電壓越高，絕緣電阻越高。

三、 短路端點判斷

當(dāng)有短路現(xiàn)象發(fā)生時(如圖所示)，則再做四次導(dǎo)通阻抗測量。

(1)         A01切到定電流源，其它點接地，測量A01導(dǎo)通量。

(2)         A02切到定電流源，其它點接地，測量A02導(dǎo)通量。

(3)         B01切到定電流源，其它點接地，測量B01導(dǎo)通量。

(4)         B02切到定電流源，其它點接地，測量B021導(dǎo)通量。

如圖所示，A01及A02導(dǎo)通量最好，因此A01及A02短路。

 四、    斷路端點判斷

當(dāng)有斷路現(xiàn)象發(fā)生時(如圖所示)，則再做二次天線噪聲量測量。

（1）A01無天線效應(yīng)，所以雜訊量小。

（2）B01有天線效應(yīng)，所以雜訊量大；因此A01為斷路。

 五、        測試模式說明：

1. 模式一：奇對偶：(以8回路為例，以下類同)

指的是非地線對指定的地線之間做絕緣測試，其優(yōu)點是測試速度快，缺點是非地線與非地線之間沒有絕緣測試，一般情況下不采用此種模式。

 2. 模式二：所有對地(如選擇A8點為地)

指的是非地線對指定的地線之間做絕緣測試，其優(yōu)點是測試速度快，缺點是非地線與非地線之間沒有絕緣測試，一般情況下不采用此種模式。

3.模式三：二分快速

其測試方法為每次測試都把線材分成兩組分別加正負(fù)電壓來做絕緣測試，它測量次數(shù)與設(shè)定的測試點數(shù)有關(guān)，如圖，設(shè)定為2點只做1次測試，設(shè)定4點時測試2次。

  4.     模式四：一對其它

測試方法是線材的一個點對其它全部的點做絕緣測試，線材的每一個點都會一一做這樣的測試，其優(yōu)點是儀器能查出第一點的絕緣及解壓值且可以全部顯示，精準(zhǔn)度較高，缺點是測試速度較慢，操作時建議把模式三及此模式同時打開。

六、       測試過程中常見問題：

1.      斷路：

原因：A.治具  B.線材  C.儀器

2.      導(dǎo)通不良：

原因：

A.     治具接觸電阻大

B.     治具與線材的接觸電阻

C.     儀器內(nèi)阻(歸零解決)

3.      絕緣不良：

原因：

A.     治具較臟，濕度大

B.     線材材料與制作工藝問題

C.     儀器Relay板較臟，可作空測或清潔工作

 七、儀器使用注意事項

1. 轉(zhuǎn)接線愈短愈好，其影響導(dǎo)通、單邊靈敏度、絕緣度

2.轉(zhuǎn)接頭要經(jīng)常更換，其影響導(dǎo)通、瞬斷

3. 治具及轉(zhuǎn)接頭隨時保持清潔，影響絕緣

八、CT-8681|CT-8683|CT-8685|CT-8687|CT-8691不良原因分析

　　1.OPEN       A01：B01▼           開路（箭頭指向開路點在B端）

　　2.SHORT      A01-B01              短路

　　3.M.W        A01×B01             錯位（注）

　　4.×COND    A01*B01 3.1?         導(dǎo)通過大(超過設(shè)定值)

　　5.×COND    A01*B01 HILIMIT      導(dǎo)通超大(超過機器值)

　　6.OPEN      A01： B01 (INTERM)    瞬間開路不良

　　7.SHORT     A01：B01 (INTERM)    瞬間短路不良

　　8.×INSUL   ( M U S)   LOW LIMIT     絕緣不良

　　9.×INSUL   ( M U S)  ARCING        DC高壓不良

　　10.×HIPOT   ( M U X)  〉0.50MA        漏電流不良

　　11.×HIPOT   ( M U X)  ARCING        AC高壓不良

注：第3項不可分辯錯位（誤配）端點，即此顯示不表示在A01、B01點誤配。如果您在這方面有任何疑問可以與我們聯(lián)系，我們會給您最專業(yè)的解釋！